Near field optical microscopy by local perturbation of a diffraction spot

Abstract

2014 En utilisant une pointe mtallique qui vibre verticalement au dessus de la surface de l'chantillon, et perturbe priodiquement et localement la distribution du champ lectromagntique issu d'un objectif de microscope grande ouverture numrique, nous avons observ une nette amlio- ration de la rsolution optique, classiquement limite par la diffraction. Le mouvement de la pointe oscillante est contrl par l'interaction rpulsive avec la surface de l'chantillon, le dplacement de cette pointe nous fournit un signal de force atomique. Ce microscope optique en champ proche est ainsi coupl un microscope force atomique fonctionnant en mode "tapping". Nous dcrivons pr- cisment le principe et le montage exprimental, et prsentons des images NFOM et AFM d'chan- tillons dont les caractristiques optiques et topographiques sont connues.