Microscopy Microanalysis Microstructures · 1991 · 16 citations · 8 references
Natural SciencesMaterials EngineeringMaterials ScienceElectronic MaterialsSpectroscopySurface ScienceDislocation MechanicsDislocation TheoryElectron MicroscopyMicrostructure AnalysisSurface MicroscopyCathodoluminescence MicroscopyMicroscopy ImagingScanning Electron MicroscopyScanning Electron Microscopy AnalysisScanning Electron Microscopy Morphology
2014 Des figures d'indentation dveloppes temprature ambiante sur les deux faces po- laires {111} de CdTe ont t observes par cathodoluminescence dans un microscope lectronique balayage. La bonne rsolution de cette technique apporte des renseignements nouveaux sur la confi- guration des dislocations dveloppes autour des indentations.
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Properties of II–VI semiconductors associated with moving dislocations
Yu. A. Osip’yan, Victor F. Petrenko, A. V. Zaretskii et al. · Advances In Physics · 1986 · 158 citations
Dislocation Velocities in GaAs
Sun Keun Choi, Minoru Mihara, Toshiyuki Ninomiya · Japanese Journal of Applied Physics · 1977 · 150 citations
CdTe growth by “multipass thm” and “sublimation thm”
R. Triboulet, Y. Marfaing · Journal of Crystal Growth · 1981 · 64 citations