Quantitative imaging of electrospun fibers by PeakForce Quantitative NanoMechanics atomic force microscopy using etched scanning probes

Adrian Chlanda, Janusz Rębiś, Ewa Kijeńska‐Gawrońska, Michał J. Woźniak, K. Rożniatowski, Wojciech Święszkowski, Krzysztof J. Kurzydłowski

Micron · 2015 · 25 citations · 24 references

Concepts

References

24