A study of VVOxPb Josephson tunnel junctions

Abstract

The current-voltage characteristics and especially the behaviour of the critical Josephson currents of V-VOx-Pb tunnel junctions are investigated experimentally. The maximum Josephson current and its temperature dependence deviate strongly from the theory. The London penetration depth of the vanadium films is found to be much larger than for pure vanadium but its temperature dependence is as expected from theory. The critical temperatures of the vanadium films are between 4.4 and 5.0 K. The ratio 2Δ(0)/(kTc) decreases with decreasing critical temperature as in the case of superconductors with paramagnetic impurities. The excess currents in the current-voltage characteristics of the tunnel junctions at low voltages are not related to the critical temperatures of the vanadium films. Die Strom-Spannungs-Kennlinien und besonders das Verhalten des kritischen Josephsonstromes von V-VOx-Pb-Tunnelverbindungen werden experimentell untersucht. Der maximale Josephsonstrom und seine Temperaturabhängigkeit weichen stark von der Theorie ab. Die Londonsche Eindringtiefe der Vanadinschichten ist wesentlich größer als die für reines Vanadin, ihre Temperaturabhängigkeit stimmt jedoch mit der Theorie öberein. Die kritischen Temperaturen der Vanadinschichten liegen zwischen 4,4 und 5,0 K. Das Verhältnis 2Δ(0)/(kTc) fällt mit abnehmender kritischer Temperatur, wie es für den Fall eines Supraleiters mit paramagnetischen Verunreinigungen erwartet wird. Die Größe der Überschußströme in den Strom-Spannungs-Kenn-linien der Tunnelverbindungen bei geringen Spannungen hängt nicht systematisch von der kritischen Temperatur der Vanadinschichten ab.