Use of synchrotron radiation in X-ray diffraction topography

Abstract

Synchrotron radiation which is emitted into a narrow cone and which has a continuous spectrum was succesfully used in X-ray topography. The exposure time to take a set of topographs (a transmission Laue pattern) from a silicon crystal on a fine grain film with a geometric resolution of a few microns turned out to be as short as some seconds. As an example for the use of the new method the contrast formation of a defect in the Laue pattern of topographs was analysed in detail. For this purpose the relative integrated intensities of different orders of reflections were calculated. They and the calculated values of extinction distances were used to estimate the image width of a dislocation whose Burgers vector could be determined. Synchrotronstrahlung, die ein kontinuierliches Spektrum besitzt und in eine schmale Keule emittiert wird, wurde erfolgreich in der Röntgentopographie benutzt. Es erwies sich, daß die Belichtungszeit, um mehrere Topographen (ein Laue-Bild mit Transmissionsverfahren) von einem Silizium-Einkristall auf einen feinkörnigen Film mit gutem Auflösungsvermögen aufzunehmen, nur einige Sekunden beträgt. Als Beispiel für die Anwendung der neuen Methode wurde die Kontrastbildung eines Defektes im Laue-Bild der Topographen analysiert. Zu diesem Zweck wurden die relativen integrierten Intensitäten der Reflexe verschiedener Ordnungen berechnet. Diese und die berechneten Werte der Extinktionslängen wurden zur Abschätzung der Bildbreite einer Versetzung, deren Burgers-Vektor bestimmt werden konnte, benutzt.