EXELFS as a structural tool for studies of low Z-elements

Abstract

2014 Des tudes de pertes d'nergie d'lectrons effectues en microscopie lectronique moyenne et haute tension nous ont permis de mettre en vidence les modulations EXELFS sur les dis- tributions associes aux excitations du niveau atomique K des lments de faibles numros atomiques (Z ~ 16). Ces modulations constituent une source d'information importante sur l'ordre atomique local dans les matriaux lgers. Aprs un rappel des bases physiques et des principes de traitement du signal EXELFS, nous discutons les aspects essentiels de la technique exprimentale dans son application en microscopie lectronique transmission moyenne tension. Les possibilits de la technique sont tudies travers trois types de rsultats obtenus partir d'chantillons de graphite, de nitrure de bore hexagonal, de carbone amorphe et de carbure de silicium cubique. Ces exemples ont t choi- sis de manire discuter la prcision de la technique, les possibilits de dtermination de l'ordre courte distance dans la matire cristalline et amorphe et faire apparatre, en particulier, l'influence des effets de diffusion multiple dans les chantillons.