Grain boundary analysis in TEM. I. Practical determination of bicrystal orientations

Abstract

A method of orientation relationship determination in bicrystals is presented. The rotation matrix and the rotation axis and angle are computer calculated in a coordinate system directly applicable to the electron microscope as well as to the crystal system. All equivalent descriptions compatible with the crystal symmetries are also calculated. These results can also be used as input data for a refinement of the determination. Special attention is paid in this method to the maximization of information obtained from a minimum of the given data. Une méthode de calcul de la relation d'orientation dans les bicristaux est présentée. Elle consiste à déterminer par ordinateur la matrice, l'axe et l'angle de rotation. Ces données sont exprimées dans le référentiel du microscope, de měme que dans celui du cristal. Toutes les descriptions compatibles avec les symétries du système sont données. Ces résultats peuvent ětre réinjectés au microscope afin de les raffiner. L'accent est mis sur la quantité maximum d'information obtenue à partir d'un minimum de données fournies.