Superconducting properties of vanadium films

Abstract

Studies on superconducting thin films of vanadium for determining the influence of production parameters are performed. The critical temperature Tc is determined as a function of the film thickness and the dependence of the critical magnetic field Hc∥ and Hc⟂ on the reduced temperature is measured. Moreover the dependence of the critical magnetic field and the critical current density on the angle are measured and the film constants λ, ξ, and x are determined. The experimental values are compared with values, which are calculated from the Ginsburg-Landau theory. An dünnen supraleitenden Vanadiumschichten werden Untersuchungen zur Bestimmung des Einflusses der Herstellungsparameter durchgeführt. Bei diesen Untersuchungen wird die kritische Temperatur Tc als Funktion der Schichtdicke und die kritischen Magnetfelder Hc∥ und Hc⟂ in Abhängigkeit von der reduzierten Temperatur bestimmt. Darüber hinaus wird die Abhängigkeit des kritischen Magnetfeldes und der kritischen Stromdichte vom Winkel gemessen sowie die Konstanten λ, ξ und x der Schichten bestimmt. Die experimentell erhaltenen Werte werden mit den nach der Ginsburg-Landau-Theorie berechneten Werten verglichen.