New Method for Analysis of Thermally Stimulated Exoelectron Emission Glow Curves

Abstract

An analytically exact solution based on the thermionic exoelectron emission model is obtained for thermally stimulated exoelectron emission (TSEE) glow curves. The theoretical TSEE glow curve is dependent on the values of trap depth and electron affinity. Moreover, the equation indicates that when the experimental glow curve is subject to the conventional first-order kinetics, the thermal activation energy is the electron affinity but not the trap depth. The equation can be compared with the experimental TSEE glow curves by the curve fitting technique. Eine exakte analytische Lösung für die TSEE-Glowkurven wird aufgrund des Exoelektronen-Emissions-Modells erhalten. Die theoretische TSEE-Glowkurve hängt von der Haftstellentiefe und der Elektronenaffinität ab. Die experimentelle Glowkurve folgt der konventionellen Kinetik erster Ordnung, die thermische Aktivierungsenergie ist die Elektronenaffinität und nicht die Haftstellentiefe. Theorie und Experiment werden mittels Kurvenanpassung verglichen.