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Electrical properties and optical absorption of SnSe evaporated thin films
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1984
Year
Optical MaterialsEngineeringOptical AbsorptionOptical Absorption CoefficientOptical PropertiesCharge Carrier TransportHall EffectThin Film ProcessingMaterials ScienceElectrical EngineeringPhysicsOptoelectronic MaterialsSemiconductor MaterialElectrical PropertyDiffusion ResistanceSurface ScienceApplied PhysicsLight AbsorptionThin FilmsOptoelectronicsChemical Vapor Deposition
Resistivity, Hall effect, and optical absorption coefficient measurements are performed on SnSe evaporated thin films. The resistivity decreases with increasing temperature whereas the Hall mobility and carrier density increase with increasing temperature. An exponential 1/T law is observed for each of these variations. The results are explained in terms of a grain boundary potential barrier mechanism. The optical absorption coefficient is measured at 300 K over the photon energy range 0.8 to 1.3 eV. An analysis of absorption measurements indicates that the SnSe thin film absorption edge is due to allowed direct transitions across an energy gap of about 1.21 eV. Les propriétés de transport et les variations du coefficient d'absorption des couches minces de SnSe ont été déterminées. Quand la température croǐt, la résistivité diminue tandis que la mobilité et la concentration de porteurs augmentent. Les variations de ϱ, μ et p obéissent à une loi exponentielle en 1/T. Les résultats ont été interprétés par le modèle de barrières de potentiel au niveau des joints de grains. Le coefficient d'absorption a été déterminé à 300 K dans la région 0,8 à 1,3 eV. L'analyse des résultats obtenus indique que le SnSe en couche mince présente une transition directe avec une largeur de bande interdite de l'ordre de 1,21 eV.
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