Quantitative subsurface defect evaluation by pulsed phase thermography: depth retrieval with the phase

Abstract

La Thermographie de Phase Pulsée (TPP) est une technique d’Évaluation Non-Destructive basée sur la Transformée de Fourier pouvant être considérée comme étant le lien entre la Thermographie Pulsée, pour laquelle l’acquisition de données est rapide, et la Thermographie Modulée, pour laquelle l’extraction de la profondeur est directe. Une nouvelle technique d’inversion de la profondeur reposant sur l’équation de la longueur de diffusion thermique : μ=(α /πf)½, est proposée. Le problème se résume alors à la détermination de la fréquence de borne fb, c à d, la fréquence à laquelle un défaut à une profondeur particulière présente un contraste de phase suffisant pour être détecté dans le spectre des fréquences. Cependant, les profils de température servant d’entrée en TPP, sont des signaux non-périodiques et non-limités en fréquence pour lesquels, des paramètres d’échantillonnage Δt, et de troncature w(t), doivent être soigneusement choisis lors du processus de discrétisation du signal. Une méthodologie à quatre étapes, basée sur la Dualité Temps-Fréquence de la Transformée de Fourier discrète, est proposée pour la détermination interactive de Δt et w(t), en fonction de la profondeur du défaut. Ainsi, pourvu que l’information thermique utilisée pour alimenter l’algorithme de TPP soit correctement échantillonnée et tronquée, une solution de la forme : z=C1μ, peut être envisagée, où les valeurs expérimentales de C1 se situent typiquement entre 1.5 et 2. Bien que la détermination de fb ne soit pas possible dans le cas de données thermiques incorrectement échantillonnées, les profils de phase exhibent quoi qu’il en soit un comportement caractéristique qui peut être utilisé pour l’extraction de la profondeur. La fréquence de borne apparente f’b, peut être définie comme la fréquence de borne évaluée à un seuil de phase donné φd et peut être utilisée en combinaison avec la définition de la phase pour une onde thermique : φ=z /μ, et le diamètre normalisé Dn=D/z, pour arriver à une expression alternative. L'extraction de la profondeur dans ce cas nécessite d'une étape additionnelle pour récupérer la taille du défaut.