Transmission electron microscope observations of slightly reduced rutile

Abstract

Observations of rutile TiO2–x single crystals with x ≦ 0.003 have been made by transmission electron microscopy. Crystallographic shear planes are not observed in crystals quenched from the reduction temperature (1323 K) but can appear after annealing at lower temperatures. A mechanical deformation preliminary to the reduction process is shown to activate the production of the crystallographic shear planes. Des monocristaux de rutile TiO2–x avec x ≦ 0,003 ont été observés en microscopie électronique par transmission. On n'observe pas de cisaillement cristallographique dans les cristaux trempés à partir de la température de réduction (1323 K), ces plans n'apparaissent qu'après revenu à plus basses températures. Une déformation mécanique préalable au traitement de réduction favorise l'apparition des plans de cisaillement cristallographique.