Optical Properties of CdTe Thin Films

Abstract

The optical constants (the refractive index n and the absorption constant K) and absorption coefficients x are measured on CdTe thin films in the wavelength range 500 to 2000 nm. Some parameters which affect these optical properties of thin films, such as the film thickness, substrate temperature, doping with impurities like In, BaF2, PbCI2 are also investigated. Effective crystallite size and strain are determined by the method of variance analysis of the X-ray diffraction line profiles on the same films. It is observed that there is an increase in optical band gap with decrease in crystallite size and increase in strain. Die optischen Konstanten (der Brechungsindex n und die Absorptionskonstante K) und der Absorptionskoeffizient x werden in dünnen CdTe-Schichten im Wellenlängenbereich von 500 bis 2000 nm gemessen. Einige Parameter, die diese optischen Eigenschaften dünner Schichten beeinflussen, wie Schichtdieke, Substrattemperatur, Dotierung mit Störstellen wie In, BaF2, PbCI2 werden ebenfalls untersucht. Effective Kristallitgröße und Spannung werden mit der Metbode der Varianzanalyse der Röntgenbeugungslinienprofile an denselben Schichten bestimmt. Es wird beobachtet, daß ein Anstieg der optischen Bandlüeke mit sinkender Kristallgröße und Anwachsen der Spannung auftritt.