Transverse Susceptibility and Structure Constant in Cobalt Thin Films

Abstract

Transverse susceptibility measurements are performed in cobalt polycrystalline films. Both χt(0) and χt(π/2) are measured with Hdc fields up to 10Hk. Qualitative agreement with Hoffmann's micromagnetic law for the susceptibility is found. The structure constant S, obtained from the fitting parameters, is S ≈ 0.2 erg/cm2 (2 × 10−4 J/m2) in sputtered films at room temperature in the thickness range: 30 to 80 nm. From a theoretical analysis it is followed that this value corresponds to films mainly constituted by the f.c.c. phase. Nous avons étudié les propriétés magnétiques des couches minces polycristallines de cobalt, à partir des mesures de la susceptibilité transversal. On a mesuré χt(0) et χt(π/2) dans un champ continu appliqué qui peut monter jusqu'au 10Hk. Les résultats expérimentaux, étant d'accord avec la loi de Hoffmann, impliquent une valeur moyenne pour la constante de structure: S ≈ 0,2 erg/cm2 (2 × 10−4 J/m2), pour des couches minces où l'intervalle d'épaisseur soit: 30 à 80 nm. L'analyse théorique de ce résultat montre que celui-là doit correspondre à des couches minces où la phase cubique du cobalt soit prépondérante.