Publication | Open Access
MoSe2 thin films synthesized by solid state reactions between Mo and Se thin films
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1990
Year
EngineeringMose2 Thin FilmsOptical AbsorptionThin Film Process TechnologyChemistryMaterial PhysicThin Film ProcessingMaterials ScienceMaterials EngineeringSelenium PressureOxide ElectronicsLayered MaterialTransition Metal ChalcogenidesSolid State ReactionsMaterial AnalysisElectronic MaterialsSurface ScienceApplied PhysicsCondensed Matter PhysicsThin FilmsFunctional MaterialsSe Thin Films
Après dépôt par évaporation de fines couches superposées de molybdène et de sélénium (Mo/Se/Mo/Se... Mo), un recuit de ces structures permet l'obtention de couches minces de MoSe2.Les couches ont été caractérisées par diffraction des rayons X, spectroscopie de photoélectrons (XPS), microscopie électronique à balayage, microsonde électronique, absorption optique et par étude de l'évolution de leur résistivité en fonction de la température.On montre que, quoique les couches soient st0153chiométriques, la structure hexagonale de MoSe2 est difficile à obtenir, même après recuits à des températures de 850 K. Cependant, des couches recuites sous pression de sélénium à seulement 770 K sont bien cristallisées.La conductivité électrique est contrôlée par une conduction par sauts dans le domaine des basses températures (80-200 K) et par diffusion des porteurs au niveau des joints de grains entre 300 et 550 K.Abstract.-MoSe2 coatings were obtained by solid state reaction, induced by annealing, between the Mo and Se constituents in thin films form.The films have been investigated by X ray analysis, XPS analysis, scanning electron microscopy, electron microprobe analysis, optical absorption and electrical resistivity measurements.It was found that, while the films are stoichiometrics, MoSe2 in the hexagonal form was difficult to obtain even at temperature as high as 850 K. However thin films annealed under selenium pressure at only 770 K are well crystallized.The electrical resistivity is governed by hopping conduction in the low temperature range (80- 200 K) and by grain boundary scattering mechanisms at higher temperature.
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